內(nèi)校天平為什么還要用外校砝碼行校準(zhǔn)

答案：天平的內(nèi)校其實(shí)就是點(diǎn)校準(zhǔn)，但無(wú)論是認(rèn)證檢查還是企業(yè)在日常操作中都要求對(duì)常用稱(chēng)量范圍行確認(rèn)。天平內(nèi)校不能滿足這個(gè)需求，因此，外置標(biāo)準(zhǔn)砝碼的校準(zhǔn)還是非常必要的。

解析：應(yīng)每天對(duì)電子天平行校準(zhǔn)，校準(zhǔn)用經(jīng)校驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)砝碼，校準(zhǔn)應(yīng)涵蓋zuizui小稱(chēng)量范圍（兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)砝碼），每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)砝碼平行測(cè)量2次，且單次測(cè)量偏差不得過(guò)此電子天平規(guī)定允差范圍。記錄測(cè)量值，與上級(jí)法碼測(cè)量值比對(duì)，差值要符合允差范圍。

如果該天平校驗(yàn)不到上次天平校驗(yàn)的時(shí)段內(nèi)的樣品需重檢，所得檢測(cè)數(shù)據(jù)均無(wú)效，并且要行偏差調(diào)查處理。